LM Sond US Dubbel 17C-23 XSI

LM Sond US Dubbel 17C-23 XSI är en dubbeländad undersökningssond utformad för noggrann diagnostik av distala ytor och ocklusala spår. Instrumentet kombinerar två olika spetstyper för att effektivisera undersökningsmomentet. Spets 17C är utrustad med en centrerad spets, förlängd nedre hals och ett blad med ”back-action”-funktion. Denna geometri är särskilt anpassad för att nå svåråtkomliga områden nära approximalkontakter och för att underlätta sondering av distala ytor. Den andra änden, spets 23, har en klassisk krokformad design. Den används främst för att undersöka fissurer och spår på ocklusalytor samt för generell kontroll av tandytor. Handtaget är av typen XSI, vilket innebär en ergonomisk design med ett ytskikt av silikon. Detta ger ett stabilt grepp och god taktil känsla under kliniskt arbete. Instrumentet är konstruerat för att tåla upprepad autoklavering. Specifikationer: Typ: Dubbeländad undersökningssond (17C och 23) Funktion: Diagnostik av distalyta och ocklusala spår Handtag: Ergonomiskt silikonhandtag (XSI) Material: Rostfritt stål och medicinsk silikon Färg: Grå Egenskaper: Centrerad spets (17C), förlängd hals (17C) Rengöring: Autoklaverbar